不良招牌诊断系统

创科方案 不良招牌诊断系统
(编号: S-1749)
试验项目
方案特点
  • 最新3D雷射扫描系统
  • 高解析度环景相机
  • 高效数据处理流程
  • 影像点云搭配融合
  • AI自动辨识模型养成
试验应用及预期成果
  • 行动测绘系统运行/市区定位精度确认
  • 行动测绘系统运行/点云测量精度确认
  • 行动测绘系统运行/环景影像解析度确认
  • 点云+影像AI辨识模型建立
  • 点云+影像AI辨识分类方式建立
附加方案资料 20240710 RIEGL VMY-2 MLS Intorduction V02.pdf
方案提供者资料
方案提供者:和煌仪器有限公司
地址:香港九龙区长沙湾荔枝角道838号励丰中心3楼305-7室
联络人:刘钊
职位:董事
电话:+852 9608 5625
电子邮件: john_liu@fs3s.cn

有关上述创新科技解决方案的详情,请联络方案提供者查询。