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項目配對

不良招牌診斷系統

創科方案 不良招牌診斷系統
(編號: S-1749)
試驗項目
方案特點
  • 最新3D雷射掃描系統
  • 高解析度環景相機
  • 高效數據處理流程
  • 影像點雲搭配融合
  • AI自動辨識模型養成
試驗應用及預期成果
  • 行動測繪系統運行/市區定位精度確認
  • 行動測繪系統運行/點雲測量精度確認
  • 行動測繪系統運行/環景影像解析度確認
  • 點雲+影像AI辨識模型建立
  • 點雲+影像AI辨識分類方式建立
附加方案資料 20240710 RIEGL VMY-2 MLS Intorduction V02.pdf
方案提供者資料
方案提供者:和煌儀器有限公司
地址:香港九龍區長沙灣荔枝角道838號勵豐中心3樓305-7室
聯絡人:劉釗
職位:董事
電話:+852 9608 5625
電子郵件: john_liu@fs3s.cn

有關上述創新科技解決方案的詳情,請聯絡方案提供者查詢。

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